可測性設(shè)計(jì)課程

課程背景
測試是產(chǎn)品從研發(fā)走向生產(chǎn)的必經(jīng)階段,也是決定產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié),如何將測試工作開展的更全面、更仔細(xì)、更專業(yè)完善也是眾多電子通信企業(yè)所追求的目標(biāo)。
建立可測試性設(shè)計(jì)是開發(fā)軟硬件系統(tǒng)的關(guān)鍵，尤其是那些對工作可靠性要求高的系統(tǒng)。
若沒有可測試性設(shè)計(jì)，在產(chǎn)品正式使用之前就很難發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷，而且工作中出現(xiàn)的故障也很難檢測和診斷。
采用可測試性設(shè)計(jì)可以增加系統(tǒng)的可測試性，提高產(chǎn)品質(zhì)量，并減少產(chǎn)品投放市場的時間及測試費(fèi)用。

課程收益
學(xué)完本課程后，學(xué)員可獲得：
深刻理解可測性設(shè)計(jì)(DFT)的基本思想和基本原理
熟悉可測性設(shè)計(jì)(DFT)的基本業(yè)務(wù)流程
全面掌握可測性設(shè)計(jì)(DFT)的設(shè)計(jì)方法
有效構(gòu)建可測性設(shè)計(jì)(DFT)的體系平臺和貨架技術(shù)

課程大綱
1、可測性設(shè)計(jì)(DFT)概述
何謂可靠性？
可靠性管理與質(zhì)量管理
產(chǎn)品生命周期V模型
電子信息產(chǎn)品測試所面臨的問題
什么是可測性設(shè)計(jì)(DFT)
思考：如何深刻理解可測性設(shè)計(jì)(DFT)
可測性的物理特征表述
可測性設(shè)計(jì)(DFT)的效益分析
可測性設(shè)計(jì)(DFT)基本要素
IPD模式下的DFT體系結(jié)構(gòu)
可測性設(shè)計(jì)(DFT)基本過程
可測性設(shè)計(jì)(DFT)中常用術(shù)語及縮略語

2、可測性設(shè)計(jì)(DFT)需求
整機(jī)研發(fā)測試的可測性(DFT)需求來源
整機(jī)研發(fā)測試的可測性(DFT)需求
單板軟件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求來源
單板軟件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求
單板硬件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求來源
單板硬件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求
單板生產(chǎn)測試的可測性(DFT)需求來源
單板生產(chǎn)測試的抽象模型
※思考：單板生產(chǎn)測試的目的是什么？
單板生產(chǎn)測試路線
單板生產(chǎn)工藝測試基本原理
單板生產(chǎn)功能測試基本原理
單板生產(chǎn)測試的可測性(DFT)需求
討論：本公司各產(chǎn)品適合的生產(chǎn)測試方案和路線是怎樣的？
JTAG在生產(chǎn)測試中的應(yīng)用
JTAG在生產(chǎn)測試中的可測性設(shè)計(jì)(DFT)需求
單板維修可測性設(shè)計(jì)(DFT)需求
思考：本公司生產(chǎn)維修有哪些診斷手段？

3、可測性設(shè)計(jì)(DFT)基本方法
輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測試控制物理通道
輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部測試命令集
輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測試控制管理
輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測試信息存儲與輸出
輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部儀器輸入輸出接口
內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)源自動生成
內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——差錯數(shù)據(jù)源自動生成
內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——容限/極限數(shù)據(jù)源自動生成
內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——故障數(shù)據(jù)源自動生成
能控性設(shè)計(jì)——測試數(shù)據(jù)源的設(shè)置與啟動
能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)配置狀態(tài)監(jiān)控
能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)業(yè)務(wù)狀態(tài)監(jiān)控
能觀性設(shè)計(jì)——單板運(yùn)行狀態(tài)監(jiān)控
能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)資源狀態(tài)監(jiān)控
能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)其它狀態(tài)監(jiān)控
案例解讀

4、單板可測性設(shè)計(jì)(DFT)必須考慮的要素
機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
自檢和自環(huán)設(shè)計(jì)
工裝夾具設(shè)計(jì)
測試點(diǎn)設(shè)計(jì)
芯片控制引腳設(shè)計(jì)
邊界掃描測試設(shè)計(jì)
EPLD/CPLD/FPGA設(shè)計(jì)
如何設(shè)計(jì)以減少測試點(diǎn)

5、可測性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施
可測性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施步驟
可測性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施障礙
交流與探討：如何構(gòu)建可測性設(shè)計(jì)(DFT)體系和貨架技術(shù)
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